IPC 서브클래스G01Q주사탐침 기법 또는 장치; 주사탐침 기법의 응용, 예. 주사탐침 현미경법 [SPM]
G01Q의 메인그룹
메인그룹은 서브클래스를 다시 주제별로 나눈 단위로, 기호가 ○/00으로 끝납니다. 괄호 안 참조는 다른 분류로 가야 하는 경우입니다.
| 기호 | 분류 내용 |
|---|---|
G01Q 10/00 | 스캐닝 또는 위치 결정 장치, 즉. 프로브의 움직임 또는 위치를 능동적으로 제어하기 위한 장치 |
G01Q 20/00 | 프로브의 이동 또는 위치를 모니터링하는 것 |
G01Q 30/00 | 주사탐침 기법 또는 장치를 보조하거나 개선하는 데 사용되는 보조 수단, 예. 디스플레이 또는 데이터 처리 장치 |
G01Q 40/00 | 보정, 예. 프로브의 |
G01Q 60/00 | 특정 유형의 SPM [주사-탐침 분광법] 또는 이를 위한 장치; 필수 구성 |
G01Q 70/00 | SPM 탐침, 이의 제조 또는 이와 관련된 기기가 그룹 G01Q60/00에 분류되는 단일 SPM 기법에 특히 적합하지 않은 한도 내에서의 일반적인 측면 |
G01Q 80/00 | SPM 이외의 주사탐침 기법의 응용(미세구조의 제조 또는 처리 B81C; 나노구조의 제조 또는 처리 B82B3/00; 근접장 상호작용을 이용한 정보의 기록 또는 재생 G11B9/12, G11B11/24 또는 G11B13/08) |
G01Q 90/00 | 달리 분류되지 않는 주사탐침 기법 또는 장치 |
G01Q로 선행기술 찾기
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- 참조 분류도 함께괄호 안 참조 분류는 비슷한 기술이 따로 모이는 곳이니 같이 확인합니다.
분류 검색은 출발점입니다. 청구항과 비교해 등록 가능성을 판단하는 단계는 선행기술조사에서 설명합니다.
클래스 G01의 다른 서브클래스
G01B길이, 두께 또는 유사한 직선…G01C거리, 고저 또는 방위 측정…G01D특정 변수에 특히 적합하지 않…G01F체적, 체적유량, 질량유량 또…G01G칭량G01H기계적 진동 또는 초음파, 음…G01J적외선, 가시광선 또는 자외선…G01K온도의 측정; 열량의 측정…G01L힘, 응력, 토크, 일, 기계…G01M기계 또는 구조물의 정적 또는…G01N재료의 화학적 또는 물리적 특…G01P선형 또는 각속도, 가속도…G01R전기적 변수의 측정; 자기적…G01S무선에 의한 방위결정; 무선항…G01T원자핵 방사선 또는 X-선의…G01V지구물리; 중력측정; 질량 또…G01W기상학
안내
분류 명칭은 지식재산처 IP·기술 분류 종합서비스의 IPC 한글 분류표를 바탕으로 정리했습니다(2026-10-04 기준). 서브그룹과 분류 정의는 원문에서 확인할 수 있습니다.
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